2号站面板尺寸持续升级;
发布时间:2019-12-16 03:42

  在整个平板显示器件的生产过程中,检测工序十分重要,遍布在各个环节。平板显示检测是平板显示器件生产各制程中的必备环节,主要在LCD、OLED以及TouchPanel产品等平板显示器件的生产过程中进行光学、信号、电气性能等各种功能检测。

  AOI(Automatic Optic Inspection)全称自动光学检测,是基于光学原理对生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备,是视觉检测中一个相对标准化的分支。AOI主要用在PCB、FPD、半导体等行业。

  LCD领域-Array、CF、Cell、Module端:LCD产能全球向大陆转移,面板尺寸持续升级;

  OLED领域:OLED工序与LCD有部分差别,一条OLED线所需AOI设备约为LCD线倍;OLED良率低,对检测要求更高,检测设备单价平均增加20-30%。

  Array制程检测系统:Array测试机、CF测试机、PS检测系统、CF阶差系统、Total Pitch检测系统、AOI光学检测系统等;

  Cell制程检测系统:亮点检测系统、AOI光学检测系统、配向检测系统等;

  信号检测系统:LVDS信号检测系统、DP信号检测系统、MIDI信号检测系统、V-By-One信号检测系统、TTL信号检测系统等

  应用于不同生产制程的平板显示检测系统技术原理差异较大,互相间无替代关系。

  Array制程主要是对玻璃基板的生产加工,该段制程的检测主要是利用光学、电学原理对玻璃基板或偏光片进行各种检测,如AOI光学检测系统。

  Cell制程主要是在Array制程完成的玻璃基板的基础上生成液晶面板,该段制程的检测主要是利用电学原理对面板进行各种检测,如亮点检测系统、配向检测系统等。

  Module制程主要是对面板加装驱动芯片、信号基板、背光源和防护罩等组件,该段制程的检测主要是利用电讯技术对面板或模组进行信号检测。

  另外,随着行业技术和平板显示产品市场需求的发展,AOI光学检测系统和Touch Panel检测系统的应用领域也逐渐拓宽。

  TFT-LCD与AMOLED在检测上的变化主要由于Array、Cell和Module工序上工艺的差别。最明显的差别就是AMOLED由于工序的减少不需要基于CF基板和背光系统的检测。

  OLED生产过程与LCD有部分差别,一条OLED线所需AOI设备约为LCD线倍:

  OLED无需滤光片和背光模组,因此无CF AOI、CF AOI,CF Marco等设备;OLED由于工艺不同会产生蒸镀混色,各类Mura缺陷更加严重,因此需要专门的Mura检测设备,通过AOI检测获取亮度信号后,可根据检测到的Mura进行光学补偿消除缺陷。

  声明:本文由入驻电子说专栏的作者撰写或者网上转载,观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。如有侵权或者其他问题,请联系举报。侵权投诉

  华为P40 Pro渲染图和配置信息曝光,采用索尼定制6400万像素IMX700

购买咨询电话
400-933-2037